半導(dǎo)體高低溫試驗(yàn)檢測(cè)箱

半導(dǎo)體高低溫試驗(yàn)檢測(cè)箱根據(jù)試驗(yàn)方法與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)可分為交變?cè)囼?yàn)、恒溫試驗(yàn)，兩種試驗(yàn)方法都是在高低溫試驗(yàn)箱的基礎(chǔ)上進(jìn)行升級(jí)拓展，高低溫試驗(yàn)箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫以及所需做的溫度的時(shí)間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi)，試驗(yàn)箱會(huì)按照設(shè)定走程序，高低溫試驗(yàn)箱就是在做一個(gè)固定的溫度，使試驗(yàn)效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測(cè)樣品的可靠性更高。

高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

半導(dǎo)體高低溫試驗(yàn)檢測(cè)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

1．GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2. GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3. GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4. GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

5. GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

6. GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

7. GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程

高低溫試驗(yàn)檢測(cè)箱線(xiàn)性和非線(xiàn)性低溫控溫試驗(yàn)箱的不同溫度變化速度，線(xiàn)性低溫控溫試驗(yàn)箱是指加熱和冷卻的速度均勻，以及每個(gè)周期的速度相同。如果將某個(gè)時(shí)段的升溫速率設(shè)置為度/分鐘，則表示整個(gè)時(shí)段的升溫速率是每分鐘固定的，不會(huì)是每分鐘多少度，與各個(gè)時(shí)段的降溫速率相同。簡(jiǎn)而言之，加熱和冷卻的速度由試驗(yàn)箱儀器控制。非線(xiàn)性快速溫變?cè)囼?yàn)箱：開(kāi)始升溫速度快，后期降溫越來(lái)越慢。如果在一個(gè)周期內(nèi)每分鐘加熱多少度，則表示該周期內(nèi)每分鐘加熱和冷卻的平均度數(shù)。非線(xiàn)性表示當(dāng)升溫速率不受儀器控制時(shí)平均每分鐘的波動(dòng)。

線(xiàn)性和非線(xiàn)性高低溫試驗(yàn)檢測(cè)箱不同的升溫速率，線(xiàn)性快速溫變?cè)囼?yàn)箱溫度的升溫速率(實(shí)際上是第 5分鐘內(nèi)的平均速度)。事實(shí)上，對(duì)于溫度變化較快的試驗(yàn)箱來(lái)說(shuō)，保持線(xiàn)性升溫速率是最困難的。最關(guān)鍵的是下降速度的最后 5 分鐘，這是測(cè)試室可以達(dá)到的冷卻速度。

非線(xiàn)性快速溫變?cè)囼?yàn)箱的升溫速率是整個(gè)平均升溫速率(在試驗(yàn)箱的溫度變化范圍內(nèi)，最高溫度與低溫度之差與時(shí)間之比)。目前國(guó)內(nèi)外環(huán)境試驗(yàn)箱廠家生產(chǎn)的快速溫變?cè)囼?yàn)箱大多數(shù)均為非線(xiàn)性升溫速率。