HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種用于對電子元器件和材料進(jìn)行快速老化測試的設(shè)備。它主要通過提高溫度和濕度來模擬惡劣環(huán)境條件，從而加速產(chǎn)品老化過程。通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，以及相對濕度達(dá)到85%至95%的條件下進(jìn)行測試。這種條件下，試驗(yàn)箱可以在相對較短的時(shí)間內(nèi)模擬出類似于長時(shí)間自然老化過程的效果。配備了一套控制系統(tǒng)，用于監(jiān)測和調(diào)節(jié)溫度、濕度等參數(shù)，以確保測試的準(zhǔn)確性和可靠性。